First Measurement of the Ratio of Central-Electron to Forward-ElectronWPartial Cross Sections inpp¯Collisions ats=1.96  TeV

Abulencia, A.; Adelman, J.; Affolder, T.; Akimoto, T.; Albrow, M. G.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Anikeev, K.; Annovi, A.; Antos, J.; Aoki, M.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Aurisano, A.; Azfar, F.; Azzi-Bacchetta, P.; Azzurri, P.; Bacchetta, N.; Badgett, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Bartsch, V.; Bauer, G.; Beauchemin, P.-H.; Bedeschi, F.; Behari, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Belloni, A.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Beringer, J.; Berry, T.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bizjak, I.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Boisvert, V.; Bolla, G.; Bolshov, A.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Boveia, A.; Brau, B.; Brigliadori, L.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Budd, S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Buzatu, A.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canelli, F.; Canepa, A.; Carillo, S.; Carlsmith, D.; Carosi, R.; Carron, S.; Casal, B.; Casarsa, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cavalli-Sforza, M.; Cerri, A.; Cerrito, L.; Chang, S. H.; Chen, Y. C.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, I.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chou, J. P.; Choudalakis, G.; Chuang, S. H.; Chung, K.; Chung, W. H.; Chung, Y. S.; Cilijak, M.; Ciobanu, C. I.; Ciocci, M. A.; Clark, A.; Clark, D.; Coca, M.; Compostella, G.; Convery, M. E.; Conway, J.; Cooper, B.; Copic, K.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Crescioli, F.; Almenar, C. Cuenca; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Cully, J. C.; DaRonco, S.; Datta, M.; D’Auria, S.; Davies, T.; Dagenhart, D.; de Barbaro, P.; De Cecco, S.; Deisher, A.; De Lentdecker, G.; De Lorenzo, G.; Dell’Orso, M.; Delli Paoli, F.; Demortier, L.; Deng, J.; Deninno, M.; De Pedis, D.; Derwent, P. F.; Giovanni, G. P. Di; Dionisi, C.; Di Ruzza, B.; Dittmann, J. R.; D’Onofrio, M.; Dörr, C.; Donati, S.; Dong, P.; Donini, J.; Dorigo, T.; Dube, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H. C.; Farrington, S.; Fedorko, I.; Fedorko, W. T.; Feild, R. G.; Feindt, M.; Fernandez, J. P.; Field, R.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Forrester, S.; Franklin, M.; Freeman, J. C.; Furic, I.; Gallinaro, M.; Galyardt, J.; Garcia, J. E.; Garberson, F.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Gerberich, H.; Gerdes, D.; Giagu, S.; Giannetti, P.; Gibson, K.; Gimmell, J. L.; Ginsburg, C.; Giokaris, N.; Giordani, M.; Giromini, P.; Giunta, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Goldstein, J.; Golossanov, A.; Gomez, G.; Gomez-Ceballos, G.; Goncharov, M.; González, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Grinstein, S.; Grosso-Pilcher, C.; Group, R. C.; Grundler, U.; Guimaraes da Costa, J.; Gunay-Unalan, Z.; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S. R.; Halkiadakis, E.; Hamilton, A.; Han, B.-Y.; Han, J. Y.; Handler, R.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, D.; Hare, M.; Harper, S.; Harr, R. F.; Harris, R. M.; Hartz, M.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Hays, C.; Heck, M.; Heijboer, A.; Heinemann, B.; Heinrich, J.; Henderson, C.; Herndon, M.; Heuser, J.; Hidas, D.; Hill, C. S.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Holloway, A.; Hou, S.; Houlden, M.; Hsu, S.-C.; Huffman, B. T.; Hughes, R. E.; Husemann, U.; Huston, J.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ivanov, A.; Iyutin, B.; James, E.; Jang, D.; Jayatilaka, B.; Jeans, D.; Jeon, E. J.; Jindariani, S.; Johnson, W.; Jones, M.; Joo, K. K.; Jun, S. Y.; Jung, J. E.; Junk, T. R.; Kamon, T.; Karchin, P. E.; Kato, Y.; Kemp, Y.; Kephart, R.; Kerzel, U.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, J. E.; Kim, M. J.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kimura, N.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Klute, M.; Knuteson, B.; Ko, B. R.; Kondo, K.; Kong, D. J.; Konigsberg, J.; Korytov, A.; Kotwal, A. V.; Kraan, A. C.; Kraus, J.; Kreps, M.; Kroll, J.; Krumnack, N.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kubo, T.; Kuhlmann, S. E.; Kuhr, T.; Kulkarni, N. P.; Kusakabe, Y.; Kwang, S.; Laasanen, A. T.; Lai, S.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, M.; Lander, R. L.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lazzizzera, I.; LeCompte, T.; Lee, J.; Lee, Y. J.; Lee, S. W.; Lefèvre, R.; Leonardo, N.; Leone, S.; Levy, S.; Lewis, J. D.; Lin, C.; Lin, C. S.; Lindgren, M.; Lipeles, E.; Lister, A.; Litvintsev, D. O.; Liu, T.; Lockyer, N. S.; Loginov, A.; Loreti, M.; Lu, R.-S.; Lucchesi, D.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; Lytken, E.; Mack, P.; MacQueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Makhoul, K.; Maki, T.; Maksimovic, P.; Malde, S.; Malik, S.; Manca, G.; Manousakis, A.; Margaroli, F.; Marginean, R.; Marino, C.; Marino, C. P.; Martin, A.; Martin, M.; Martin, V.; Martínez, M.; Martínez-Ballarín, R.; Maruyama, T.; Mastrandrea, P.; Masubuchi, T.; Matsunaga, H.; Mattson, M. E.; Mazini, R.; Mazzanti, P.; McFarland, K. S.; McIntyre, P.; McNulty, R.; Mehta, A.; Mehtala, P.; Menzemer, S.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Messina, A.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miles, J.; Miller, R.; Mills, C.; Milnik, M.; Mitra, A.; Mitselmakher, G.; Miyamoto, A.; Moed, S.; Moggi, N.; Mohr, B.; Moon, C. S.; Moore, R.; Morello, M.; Fernandez, P. Movilla; Mülmenstädt, J.; Mukherjee, A.; Muller, T.-H.; Mumford, R.; Murat, P.; Mussini, M.; Nachtman, J.; Nagano, A.; Naganoma, J.; Nakamura, K.; Nakano, I.; Napier, A.; Necula, V.; Neu, C.; Neubauer, M. S.; Nielsen, J.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Nurse, E.; Oh, S. H.; Oh, Y. D.; Oksuzian, I.; Okusawa, T.; Oldeman, R.; Orava, R.; Osterberg, K.; Pagliarone, C.; Palencia, E.; Papadimitriou, V.; Papaikonomou, A.; Paramonov, A. A.; Parks, B.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pellett, D. E.; Penzo, A.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Piedra, J.; Pinera, L.; Pitts, K.; Plager, C.; Pondrom, L.; Portell, X.; Poukhov, O.; Pounder, N.; Prakoshyn, F.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Pursley, J.; Rademacker, J.; Rahaman, A.; Ramakrishnan, V.; Ranjan, N.; Redondo, I.; Reisert, B.; Rekovic, V.; Renton, P.; Rescigno, M.; Richter, S.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rogers, E.; Rolli, S.; Roser, R.; Rossi, M.; Rossin, R.; Roy, P.; Ruiz, A.; Russ, J.; Rusu, V.; Saarikko, H.; Safonov, A.; Sakumoto, W. K.; Salamanna, G.; Saltó, O.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sartori, L.; Sato, K.; Savard, P.; Savoy-Navarro, A.; Scheidle, T.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Schwarz, T.; Scodellaro, L.; Scott, A. L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Sexton-Kennedy, L.; Sfyrla, A.; Shalhout, S. Z.; Shapiro, M. D.; Shears, T.; Shepard, P. F.; Sherman, D.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Sidoti, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Slaughter, A. J.; Slaunwhite, J.; Sliwa, K.; Smith, J. R.; Snider, F. D.; Snihur, R.; Soderberg, M.; Soha, A.; Somalwar, S.; Sorin, V.; Spalding, J.; Spinella, F.; Spreitzer, T.; Squillacioti, P.; Stanitzki, M.; Staveris-Polykalas, A.; Denis, R. St.; Stelzer, B.; Stelzer-Chilton, O.; Stentz, D.; Strologas, J.; Stuart, D.; Suh, J. S.; Sukhanov, A.; Sun, H.; Suslov, I.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Tanaka, R.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Thom, J.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Tipton, P.; Tiwari, V.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tokar, S.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Torre, S.; Torretta, D.; Tourneur, S.; Trischuk, W.; Tsuno, S.; Tu, Y.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Uozumi, S.; Vallecorsa, S.; van Remortel, N.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vazquez, F.; Velev, G.; Vellidis, C.; Veramendi, G.; Veszpremi, V.; Vidal, M.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Vine, T.; Vollrath, I.; Volobouev, I.; Volpi, G.; Würthwein, F.; Wagner, P.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wagner, J.; Wagner, W.; Wallny, R.; Wang, S. M.; Warburton, A.; Waters, D.; Weinberger, M.; Wester, W. C.; Whitehouse, B.; Whiteson, D.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Williams, G.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolfe, C.; Wright, T.; Wu, X.; Wynne, S. M.; Yagil, A.; Yamamoto, K.; Yamaoka, J.; Yamashita, T.; Yang, C.; Yang, U. K.; Yang, Y. C.; Yao, W. M.; Yeh, G. P.; Yoh, J.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, G. B.; Yu, I.; Yu, S. S.; Yun, J. C.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zaw, I.; Zhang, X.; Zhou, J.; Zucchelli, S.

Tools

First Measurement of the Ratio of Central-Electron to Forward-ElectronWPartial Cross Sections inpp¯Collisions ats=1.96 TeV

Journal article published in 2007 by A. Abulencia, J. Adelman, T. Affolder, T. Akimoto, M. G. Albrow, S. Amerio, D. Amidei, A. Anastassov, K. Anikeev, A. Annovi, J. Antos, M. Aoki, G. Apollinari, T. Arisawa, A. Artikov and other authors.

This paper is available in a repository.

Full text: Download

Preprint: policy unknown

Upload

Postprint: policy unknown

Upload

Published version: policy unknown

Upload

Abstract

We present a measurement of sigma(p-pbar -> W) x B(W->enu) at sqrt{s}=1.96 TeV, using electrons identified in the forward region (1.2 <|eta|<2.8) of the CDF II detector in 223 pb-1 of data. We measure sigma x B = 2796 +-13(stat)+95-90(syst)+-162(lum)pb. Combining this result with a previous CDF measurement obtained using electrons in the central region (|eta|<1), we present the first measurement of the ratio of central-electron to forward-electron W partial cross sections R_exp=0.925+-0.006(stat)+-0.032(syst), consistent with theoretical predictions using Coordinated Theoretical-Experimental Preoject on QCD (CTEQ) and Martin-Roberts-Stirling-Thorne (MRST) parton distribution functions.

Links

Tools

First Measurement of the Ratio of Central-Electron to Forward-ElectronWPartial Cross Sections inpp¯Collisions ats=1.96 TeV

Abstract