Журнал технической физики, 5(52), p. 504
DOI: 10.21883/ftp.2018.05.45848.37
MAIK Nauka/Interperiodica, Semiconductors, 5(52), p. 587-589
DOI: 10.1134/s1063782618050044
Export citation
Search in Google Scholar
Full text: Download