Журнал технической физики, 5(52), p. 515
DOI: 10.21883/ftp.2018.05.45859.48
MAIK Nauka/Interperiodica, Semiconductors, 5(52), p. 622-624
DOI: 10.1134/s1063782618050056
Export citation
Search in Google Scholar
Full text: Download