MAIK Nauka/Interperiodica, Semiconductors, 4(52), p. 452-457
DOI: 10.1134/s1063782618040164
Журнал технической физики, 4(52), p. 467
DOI: 10.21883/ftp.2018.04.45816.05
Export citation
Search in Google Scholar
Full text: Download