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Published in

De Gruyter, Technisches Messen, 10(68), p. 439, 2001

DOI: 10.1524/teme.2001.68.10.439

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Empfindlicher extraktiver Gasnachweis mit Nahinfrarot-Diodenlasern am Beispiel von O2 und CH4 (Sensitive Extractive Detection of Oxygen and Methane with Near Infrared Diode Lasers)

Journal article published in 2001 by V. Ebert ORCID, T. Fernholz, P. Vogel
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Abstract

In vielen industriellen Anwendungen besteht ein großer Bedarf an einem rein optischen und damit korrosionsfesten Nachweis von Sauerstoff. Für diesen Zweck wurde ein hochempfindliches, extraktives, lasergestütztes Zweistrahl-Absorptionsspektrometer mit nur 200 mm Absorptionslänge zum O2-Nachweis im Bereich des A-Bandes bei 760 nm entwickelt und mit verschiedenen Lasertypen getestet. Mit einem Vertical-Cavity-Surface-Emitting-Laser mit 670 μW optischer Leistung wurde auf der R11 R11-Linie bei STP eine exzellente Linearität (R = 0,9999) und eine Nachweisgrenze von 35 ppmV O2 erreicht. Das entspricht einer optischen Dichte von 7 · 10−7 und ist nur noch einen Faktor 3 von der Schrotrauschgrenze entfernt. Die normierte Spektrometerempfindlichkeit beträgt damit 7,6 ppmV · m · mW1/2 · s1/2. Über Zeiträume von bis zu 10 Stunden betrug die Stabilität 65 ppmV. Das gleiche System wurde mit einem neuartigen Distributed-Feedback-Laser im externen Planresonator gekoppelt, um bei λ = 1,65 μm CH4 mit einer Empfindlichkeit von 600 ppb · m nachzuweisen.