Measurement of the branching ratio of $\bar{B}^0 → D^{*+} τ^- \bar{\nu}_{τ}$ relative to $\bar{B}^0 → D^{*+} \ell^- \bar{\nu}_{\ell}$ decays with a semileptonic tagging method

Abdesselam, A.; 李海波,; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Al Said, S.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Arita, Y.; Asner, D. M.; Aso, T.; Atmacan, H.; Aulchenko,; Aushev, T.; Ayad, R.; Aziz, T.; Bahinipati, S.; Babu,; Badhrees, I.; Bala, A.; Ban, Y.; Bakich, A. M.; Barberio, E.; Barrett, M.; Bansal, Vikas; Bartel, W.; Bay, A.; Bedny, I.; Belhorn, M.; Behera, P.; Belous, K.; Besson, D.; Bhardwaj,; Bischofberger, M.; Bhuyan, B.; Bloomfield, T.; Biswal, J.; Blyth, S.; Bobrov, A.; Bondar, A.; Bookwalter, C.; Bonvicini, G.; Boulahouache, C.; Brač, M.; Bozek, A.; Breibeck, F.; Brodzicka, J.; Browder, T. E.; Chang, M.-C.; Cervenkov, D.; Bracko, M.; Chang, Pao-Ti; Chao, Y.; Chekelian,; Chen, K.-F.; Chen, A.; Chen, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chistov, R.; Choi, S.-K.; Cho, K.; Choi, Y.; Chobanova,; Crnkovic, J.; Dalseno, J.; Cinabro, D.; Dingfelder, J.; Danilov, M.; Dolež, Z.; Dash, N.; Drásal, Z.; Drutskoy, A.; Di Carlo, S.; Dubey, S.; Dutta, K.; Dutta, D.; Esen, S.; Eidelman, S.; Feindt, M.; Epifanov, D.; Frey, A.; Farhat, H.; Frost, O.; Fast, J. E.; Fujikawa, M.; Dolezal, Z.; Ferber, T.; Ganguly, S.; Fulsom, B. G.; Getzkow, D.; Gaur,; Gillard, R.; Gabyshev, N.; Giordano, F.; Glattauer, R.; Garmash, A.; Goh, Y. M.; Iijima, T.; Grosse Perdekamp, M.; Grygier, J.; Goldenzweig, P.; Grzymkowska, O.; Golob, Bostjan; Guo, H.; Haba, J.; Greenwald, D.; Hamer, P.; Han, Y. L.; Hasegawa, Y.; Hara, K.; Hara, T.; He, X. H.; Heck, M.; Hasenbusch, J.; Hedges, M. T.; Hayasaka, K.; Heffernan, D.; Heider, M.; Hayashii, H.; Heller, A.; Higuchi, T.; Himori, S.; Hoshi, Y.; Hirose, S.; Hoshina, K.; Hsiung, Yee B.; Horiguchi, T.; Hsu, C.-L.; Huschle, M.; Hou, W.-S.; Hyun, H. J.; Igarashi, Y.; Imamura, M.; Inguglia, G.; Inami, K.; Itagaki, K.; Ishikawa, A.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, M.; Itoh, R.; Iwasaki, Y.; Iwata, S.; Jacobs, W. W.; Jaegle, Igal; Jones, M.; Jeon, H. B.; Joo, K. K.; Joffe, D.; Kakuno, H.; Kang, J. H.; Julius, T.; Kang, K. H.; Kapusta, P.; Kataoka, S. U.; Kato, E.; Kato, Y.; Kawai, H.; Katrenko, P.; Keck, T.; Kichimi, H.; Kawasaki, Takeo; Kiesling, C.; Kim, B. H.; Kim, D. Y.; Kim, H. J.; Kim, H.-J.; Kim, J. B.; Kim, J. H.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, S. K.; Kim, Y. J.; Kleinwort, C.; Klucar, J.; Kinoshita, K.; Ko, B. R.; Kobayashi, N.; Koblitz, S.; Koga, Y.; Kodys, P.; Kouzes, R. T.; Korpar, S.; Križ, P.; Kotchetkov, D.; Kronenbitter, B.; Krokovny, P.; Kumita, T.; Kuhr, Thomas; Kurihara, E.; Kuroki, Y.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Kvasnič, P.; Lai, Y.-T.; Kwon, Y.-J.; Lee, D. H.; Lee, I. S.; Lange, J. S.; Lee, S.-H.; Leitgab, M.; Leitner, R.; Levit, D.; Lewis, P.; Li, C. H.; Li, H.; Li, Jin; Li, L.; Li, J.; Li, X.; Li, Y.; Li Gioi, L.; Limosani, A.; Libby, James; Liu, C.; Liu, Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Loos, A.; Louvot, R.; Lubej, M.; Lukin, Peter; Luo, T.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Zwahlen, N.; Matsuda, T.; Zyukova, O.; Matvienko, D.; Matyja, A.; McOnie, S.; Mikami, Y.; Miyabayashi, Kenkichi; Miyachi, Y.; Miyake, H.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mohanty, S.; Mohapatra, D.; Moll, A.; Mori, T.; Moon, H. K.; Morii, T.; Moser, H.-G.; Müller, T.; Muramatsu, N.; Mussa, Roberto; Sato, Y.; Nagamine, T.; Nagasaka, Y.; Nakamura, K. R.; Nakahama, Y.; Nakamura, I.; Nakano, E.; Nakano, H.; Nakano, T.; Nakao, M.; Nakayama, H.; Nakazawa, H.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Natkaniec, Z.; Nayak, M.; Nedelkovska, E.; Negishi, K.; Neichi, K.; Ng, C.; Niebuhr, C.; Niiyama, M.; Nisar, N. K.; Nishida, Shohei; Nishimura, Kurtis; Nitoh, O.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ogawa, A.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, Stephen L.; Ono, Y.; Onuki, Y.; Ostrowicz, W.; Oswald, C.; Ozaki, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, Bilas; Palka, H.; Panzenböck, E.; Park, C.-S.; Park, C. S.; Park, C. W.; Park, H.; Park, K. S.; Paul, Stephan; Peak, L. S.; Pedlar, Todd K.; Peng, T.; Pesantez, L.; Pesá, L.; Pestotnik, R.; Peters, M.; Petric, M.; Piilonen, Leo E.; Poluektov, A.; Prasanth, K.; Prim, M.; Prothmann, K.; Pulvermacher, C.; Purohit, M.; Rauch, J.; Reisert, B.; Ribež, E.; Ritter, Martin; Röhrken, M.; Rorie, J.; Rostomyan, A.; Rozanska, M.; Rummel, S.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Saito, T.; Sakai, K.; Sandilya, S.; Santel, D.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Sasao, N.; Savinov,; Schluter, T.; Schneider, Olivier; Schlü, T.; Schnell, Gunar; Schönmeier, P.; Schram, M.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Schwenker, B.; Seidl, R.; Seino, Y.; Sekiya, A.; Semmler, D.; Senyo, K.; Seon, O.; Seong, I. S.; Sevior, M. E.; Shang, L.; Shapkin, M.; Shebalin,; Shen, C. P.; Shibata, T.-A.; Shibuya, H.; Shinomiya, S.; Shiu, Jing-Ge; Shwartz, B.; Sibidanov, Alexei; Singh, J. B.; Simon, Frank; Sinha, Rahul; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Soloviev, Y.; Solovieva, E.; Stanic, S.; Staric, M.; Steder, M.; Strube, J. F.; Stypula, J.; Sugihara, S.; Sugiyama, A.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Suzuki, K.; Suzuki, S.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Z.; Takeichi, H.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanaka, M.; Tenchini, F.; Tanaka, S.; Tanida, K.; Taniguchi, N.; Taylor, G. N.; Teramoto, Y.; Trabelsi, Karim; Tikhomirov, I.; Trusov,; Tse, Y. F.; Uchida, M.; Tsuboyama, T.; Uchida, T.; Uehara, S.; Ueno, K.; Uno, S.; Uglov, Timofey; Unno, Y.; Urquijo, Phillip; Ushiroda, Y.; Uozumi, S.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; Van Hulse, C.; Vanhoefer, P.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Vervink, K.; Vorobyev,; Vossen, A.; Wang, C. H.; Wagner, M. N.; Wang, Min-Zu; Wang, J.; Wang, Ping; Wang, P.; Wang, X. L.; Watanabe, Y.; Wang, M.-Z.; Watanabe, M.; Wedd, R.; Wehle, S.; White, E.; Williams, Kimberly M.; Wiechczynski, J.; Won, Eunil; Yabsley, B. D.; Yamamoto, H.; Yamada, S.; Yamaoka, Jared; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Yashchenko, S.; Yelton, J.; Ye, H.; Yook, Y.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zhang, C. C.; Zhang, L. M.; Zhang, Ziping P.; Zhao, L.; Zhilich,; Zhukova,; Zhulanov,; Ziegler, M.; Zivko, T.; Zupanc, A.

Tools

Measurement of the branching ratio of $\bar{B}^0 → D^{+} τ^- \bar{\nu}_{τ}$ relative to $\bar{B}^0 → D^{+} \ell^- \bar{\nu}_{\ell}$ decays with a semileptonic tagging method

Proceedings article published in 2016 by A. Abdesselam, 李海波, I. Adachi, K. Adamczyk, S. Al Said, H. Aihara, K. Arinstein, Y. Arita, D. M. Asner, T. Aso, H. Atmacan, Aulchenko, T. Aushev, R. Ayad, T. Aziz and other authors.

This paper is available in a repository.

Full text: Download

Preprint: policy unknown

Upload

Postprint: policy unknown

Upload

Published version: policy unknown

Upload

Abstract

SeriesInformation ; Physical review / D covering particles, fields, gravitation, and cosmology 94(7), 072007(2016). doi:10.1103/PhysRevD.94.072007 ; Abstract ; We report a measurement of the ratio R(D*)=B(B¯0→D*+τ-ν¯τ)/B(B¯0→D*+ℓ-ν¯ℓ), where ℓ denotes an electron or a muon. The results are based on a data sample containing 772×106 BB¯ pairs recorded at the ϒ(4S) resonance with the Belle detector at the KEKB e+e- collider. We select a sample of B0B¯0 pairs by reconstructing both B mesons in semileptonic decays to D*∓ℓ±. We measure R(D*)=0.302±0.030(stat)±0.011(syst), which is within 1.6σ of the Standard Model theoretical expectation, where the standard deviation σ includes systematic uncertainties. We use this measurement to constrain several scenarios of new physics in a model-independent approach. ; Other ; Published by American Physical Society, Woodbury, NY

Links

Tools

Measurement of the branching ratio of $\bar{B}^0 → D^{*+} τ^- \bar{\nu}_{τ}$ relative to $\bar{B}^0 → D^{*+} \ell^- \bar{\nu}_{\ell}$ decays with a semileptonic tagging method

Abstract

Measurement of the branching ratio of $\bar{B}^0 → D^{+} τ^- \bar{\nu}_{τ}$ relative to $\bar{B}^0 → D^{+} \ell^- \bar{\nu}_{\ell}$ decays with a semileptonic tagging method