Cross section measurements of high-pTdilepton final-state processes using a global fitting method

Abulencia, A.; Adelman, J.; Affolder, T.; Akimoto, T.; Albrow, M. G.; Ambrose, D.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Anikeev, K.; Annovi, A.; Antos, J.; Aoki, M.; Apollinari, G.; Arguin, J.-F.; Arisawa, T.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Azfar, F.; Azzi-Bacchetta, P.; Azzurri, P.; Bacchetta, N.; Badgett, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Bartsch, V.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Behari, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Belloni, A.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Beringer, J.; Berry, T.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Boisvert, V.; Bolla, G.; Bolshov, A.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Boveia, A.; Brau, B.; Brigliadori, L.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Budd, S.; Budroni, S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canelli, F.; Canepa, A.; Carillo, S.; Carlsmith, D.; Carosi, R.; Carron, S.; Casarsa, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cavalli-Sforza, M.; Cerri, A.; Cerrito, L.; Chang, S. H.; Chen, Y. C.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, I.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chou, J. P.; Choudalakis, G.; Chuang, S. H.; Chung, K.; Chung, W. H.; Chung, Y. S.; Ciljak, M.; Ciobanu, C. I.; Ciocci, M. A.; Clark, A.; Clark, D.; Coca, M.; Compostella, G.; Convery, M. E.; Conway, J.; Cooper, B.; Copic, K.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Crescioli, F.; Almenar, C. Cuenca; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Cully, J. C.; Cyr, D.; DaRonco, S.; Datta, M.; D’Auria, S.; Davies, T.; D’Onofrio, M.; Dagenhart, D.; de Barbaro, P.; DeCecco, S.; Deisher, A.; De Lentdecker, G.; Dell’Orso, M.; Delli Paoli, F.; Demortier, L.; Deng, J.; Deninno, M.; De Pedis, D.; Derwent, P. F.; Di Giovanni, G. P.; Dionisi, C.; Di Ruzza, B.; Dittmann, J. R.; DiTuro, P.; Dörr, C.; Donati, S.; Donega, M.; Dong, P.; Donini, J.; Dorigo, T.; Dube, S.; Efron, J.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H. C.; Farrington, S.; Fedorko, I.; Fedorko, W. T.; Feild, R. G.; Feindt, M.; Fernandez, J. P.; Field, R.; Flanagan, G.; Foland, A.; Forrester, S.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J. C.; Furic, I.; Gallinaro, M.; Galyardt, J.; Garcia, J. E.; Garberson, F.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Gerberich, H.; Gerdes, D.; Giagu, S.; Giannetti, P.; Gibson, A.; Gibson, K.; Gimmell, J. L.; Ginsburg, C.; Giokaris, N.; Giordani, M.; Giromini, P.; Giunta, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Goldstein, J.; Golossanov, A.; Gomez, G.; Gomez-Ceballos, G.; Goncharov, M.; González, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Griffiths, M.; Grinstein, S.; Grosso-Pilcher, C.; Group, R. C.; Grundler, U.; da Costa, J. Guimaraes; Gunay-Unalan, Z.; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S. R.; Halkiadakis, E.; Hamilton, A.; Han, B.-Y.; Han, J. Y.; Handler, R.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, M.; Harper, S.; Harr, R. F.; Harris, R. M.; Hartz, M.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Heijboer, A.; Heinemann, B.; Heinrich, J.; Henderson, C.; Herndon, M.; Heuser, J.; Hidas, D.; Hill, C. S.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Holloway, A.; Hou, S.; Houlden, M.; Hsu, S.-C.; Huffman, B. T.; Hughes, R. E.; Husemann, U.; Huston, J.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ishizawa, Y.; Ivanov, A.; Iyutin, B.; James, E.; Jang, D.; Jayatilaka, B.; Jeans, D.; Jensen, H.; Jeon, E. J.; Jindariani, S.; Jones, M.; Joo, K. K.; Jun, S. Y.; Jung, J. E.; Junk, T. R.; Kamon, T.; Karchin, P. E.; Kato, Y.; Kemp, Y.; Kephart, R.; Kerzel, U.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, J. E.; Kim, M. J.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kimura, N.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Klute, M.; Knuteson, B.; Ko, B. R.; Kondo, K.; Kong, D. J.; Konigsberg, J.; Korytov, A.; Kotwal, A. V.; Kovalev, A.; Kraan, A. C.; Kraus, J.; Kravchenko, I.; Kreps, M.; Kroll, J.; Krumnack, N.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kubo, T.; Kuhlmann, S. E.; Kuhr, T.; Kusakabe, Y.; Kwang, S.; Laasanen, A. T.; Lai, S.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, M.; Lander, R. L.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lazzizzera, I.; LeCompte, T.; Lee, J.; Lee, Y. J.; Lee, S. W.; Lefèvre, R.; Leonardo, N.; Leone, S.; Levy, S.; Lewis, J. D.; Lin, C.; Lin, C. S.; Lindgren, M.; Lipeles, E.; Liss, T. M.; Lister, A.; Litvintsev, D. O.; Liu, T.; Lockyer, N. S.; Loginov, A.; Loreti, M.; Loverre, P.; Lu, R.-S.; Lucchesi, D.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; Lytken, E.; Mack, P.; MacQueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Makhoul, K.; Maki, T.; Maksimovic, P.; Malde, S.; Manca, G.; Margaroli, F.; Marginean, R.; Marino, C.; Marino, C. P.; Martin, A.; Martin, M.; Martin, V.; Martínez, M.; Maruyama, T.; Mastrandrea, P.; Masubuchi, T.; Matsunaga, H.; Mattson, M. E.; Mazini, R.; Mazzanti, P.; McFarland, K. S.; McIntyre, P.; McNulty, R.; Mehta, A.; Mehtala, P.; Menzemer, S.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Messina, A.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miles, J.; Miller, R.; Mills, C.; Milnik, M.; Mitra, A.; Mitselmakher, G.; Miyamoto, A.; Moed, S.; Moggi, N.; Mohr, B.; Moore, R.; Morello, M.; Fernandez, P. Movilla; Mülmenstädt, J.; Mukherjee, A.; Muller, T.-H.; Mumford, R.; Murat, P.; Nachtman, J.; Nagano, A.; Naganoma, J.; Nakano, I.; Napier, A.; Necula, V.; Neu, C.; Neubauer, M. S.; Nielsen, J.; Nigmanov, T.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Nurse, E.; Oh, S. H.; Oh, Y. D.; Oksuzian, I.; Okusawa, T.; Oldeman, R.; Orava, R.; Osterberg, K.; Pagliarone, C.; Palencia, E.; Papadimitriou, V.; Paramonov, A. A.; Parks, B.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pellett, D. E.; Penzo, A.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Piedra, J.; Pinera, L.; Pitts, K.; Plager, C.; Pondrom, L.; Portell, X.; Poukhov, O.; Pounder, N.; Prakoshyn, F.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Pursley, J.; Rademacker, J.; Rahaman, A.; Ranjan, N.; Rappoccio, S.; Reisert, B.; Rekovic, V.; Renton, P.; Rescigno, M.; Richter, S.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rogers, E.; Rolli, S.; Roser, R.; Rossi, M.; Rossin, R.; Ruiz, A.; Russ, J.; Rusu, V.; Saarikko, H.; Sabik, S.; Safonov, A.; Sakumoto, W. K.; Salamanna, G.; Saltó, O.; Saltzberg, D.; Sánchez, C.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sartori, L.; Sato, K.; Savard, P.; Savoy-Navarro, A.; Scheidle, T.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Schwarz, T.; Scodellaro, L.; Scott, A. L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Sexton-Kennedy, L.; Sfyrla, A.; Shapiro, M. D.; Shears, T.; Shepard, P. F.; Sherman, D.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Sidoti, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Sjolin, J.; Slaughter, A. J.; Slaunwhite, J.; Sliwa, K.; Smith, J. R.; Snider, F. D.; Snihur, R.; Soderberg, M.; Soha, A.; Somalwar, S.; Sorin, V.; Spalding, J.; Spinella, F.; Spreitzer, T.; Squillacioti, P.; Stanitzki, M.; Staveris-Polykalas, A.; St. Denis, R.; Stelzer, B.; Stelzer-Chilton, O.; Stentz, D.; Strologas, J.; Stuart, D.; Suh, J. S.; Sukhanov, A.; Sun, H.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Takikawa, K.; Tanaka, M.; Tanaka, R.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Thom, J.; Thompson, A. S.; Thomson, E.; Tipton, P.; Tiwari, V.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tokar, S.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Torre, S.; Torretta, D.; Tourneur, S.; Trischuk, W.; Tsuchiya, R.; Tsuno, S.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Unverhau, T.; Uozumi, S.; Usynin, D.; Vallecorsa, S.; van Remortel, N.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vázquez, F.; Velev, G.; Veramendi, G.; Veszpremi, V.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Vine, T.; Vollrath, I.; Volobouev, I.; Volpi, G.; Würthwein, F.; Wagner, P.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wagner, J.; Wagner, W.; Wallny, R.; Wang, S. M.; Warburton, A.; Waschke, S.; Waters, D.; Weinberger, M.; Wester, W. C.; Whitehouse, B.; Whiteson, D.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Williams, G.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolfe, C.; Wright, T.; Wu, X.; Wynne, S. M.; Yagil, A.; Yamamoto, K.; Yamaoka, J.; Yamashita, T.; Yang, C.; Yang, U. K.; Yang, Y. C.; Yao, W. M.; Yeh, G. P.; Yoh, J.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, G. B.; Yu, I.; Yu, S. S.; Yun, J. C.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zaw, I.; Zhang, X.; Zhou, J.; Zucchelli, S.

Tools

Cross section measurements of high-pTdilepton final-state processes using a global fitting method

Journal article published in 2008 by A. Abulencia, J. Adelman, T. Affolder, T. Akimoto, M. G. Albrow, D. Ambrose, S. Amerio, D. Amidei, A. Anastassov, K. Anikeev, A. Annovi, J. Antos, M. Aoki, G. Apollinari, J.-F. Arguin and other authors.

This paper is available in a repository.

Full text: Download

Preprint: policy unknown

Upload

Postprint: policy unknown

Upload

Published version: policy unknown

Upload

Abstract

We present a new method for studying high-p(T) dilepton events (e(+/-)e(-/+), mu(+/-)mu(-/+), e(+/-)mu(-/+)) and simultaneously extracting the production cross sections of p (p) over bar -> t (t) over bar, p (p) over bar -> W(+)W(-), and p (p) over bar -> Z(0) -> tau(+)tau(-) at a center-of-mass energy of root s = 1.96 TeV. We perform a likelihood fit to the dilepton data in a parameter space defined by the missing transverse energy and the number of jets in the event. Our results, which use 360 pb(-1) of data recorded with the CDF II detector at the Fermilab Tevatron Collider, are sigma(t (t) over bar) = 8.5(-2.2)(+2.7) pb, sigma(W(+)W(-)) = 16.3(-4.4)(+5.2) pb, and sigma(Z(0) -> tau(+)tau(-)) = 291(-46)(+50) pb. RI Ruiz, Alberto/E-4473-2011; Robson, Aidan/G-1087-2011; De Cecco, Sandro/B-1016-2012; Prokoshin, Fedor/E-2795-2012; Azzi, Patrizia/H-5404-2012

Links

Tools

Cross section measurements of high-pTdilepton final-state processes using a global fitting method

Abstract