Published in

Wiley-VCH Verlag, Vakuum in Forschung und Praxis, 2(23), p. 35-39, 2011

DOI: 10.1002/vipr.201100452

Links

Tools

Export citation

Search in Google Scholar

Untersuchung von Grenzflächen in Chalkopyrit Dünnschichtsolarzellen

Journal article published in 2011 by Iver Lauermann ORCID
Distributing this paper is prohibited by the publisher
Distributing this paper is prohibited by the publisher

Full text: Unavailable

Red circle
Preprint: archiving forbidden
Red circle
Postprint: archiving forbidden
Red circle
Published version: archiving forbidden
Data provided by SHERPA/RoMEO

Abstract

Anhand von zwei Beispielen aus der aktuellen Forschung im Bereich Solarenergieforschung am Helmholtz Zentrum Berlin für Materialien und Energie HZB wird gezeigt, wie Synchrotronstrahlung zur Analyse von Grenzflächenreaktionen in Dünnschichtsolarzellen eingesetzt werden kann und somit zum Verständnis ihrer Funktionsweise beiträgt. Erst mit diesem Wissen können Dünnschichtsolarzellen im Hinblick auf Wirkungsgrad und Stabilität verbessert werden. Dargestellt wird der Einsatz der Röntgenemissionsspektroskopie zum Nachweis der Oxidation von Sulfid zu Sulfat an der Grenzfläche zwischen Chalkopyrit Solarzellenabsorbern und Zinkoxid. Im zweiten Beispiel wird gezeigt, wie Hochenergie Röntgenphotoelektronenspektroskopie eingesetzt wird, um die Diffusion von Kupfer aus einem Chalkopyrit Absorber in eine Indiumsulfid Pufferschicht in situ zu verfolgen