Measurement of Charged and Neutral Currente−pDeep Inelastic Scattering Cross Sections at HighQ2

Derrick, M.; Krakauer, D.; Magill, S.; Mikunas, D.; Musgrave, B.; Repond, J.; Stanek, R.; Talaga, R. L.; Zhang, H.; Ayad, R.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, A.; Bruni, G.; Bruni, P.; Cara Romeo, G.; Castellini, G.; Chiarini, M.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Contin, A.; Corradi, M.; Gialas, I.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Laurenti, G.; Levi, G.; Margotti, A.; Massam, T.; Nania, R.; Nemoz, C.; Palmonari, F.; Polini, A.; Sartorelli, G.; Timellini, R.; Zamora Garcia, Y.; Zichichi, A.; Bargende, A.; Crittenden, J.; Desch, K.; Diekmann, B.; Doeker, T.; Eckert, M.; Feld, L.; Frey, A.; Geerts, M.; Geitz, G.; Grothe, M.; Haas, T.; Hartmann, H.; Haun, D.; Heinloth, K.; Hilger, E.; Jakob, H.-P.; Katz, U. F.; Mari, S. M.; Mass, A.; Mengel, S.; Mollen, J.; Paul, E.; Rembser, C.-H.; Schattevoy, R.; Schramm, D.; Stamm, J.; Wedemeyer, R.; Campbell-Robson, S.; Cassidy, A.; Dyce, N.; Foster, B.; George, S.; Gilmore, R.; Heath, G. P.; Heath, H. F.; Llewellyn, T. J.; Morgado, C. J. S.; Norman, D. J. P.; O'Mara, J. A.; Tapper, R. J.; Wilson, S. S.; Yoshida, R.; Rau, R. R.; Arneodo, M.; Iannotti, L.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Bernstein, A.; Caldwell, A.; Cartiglia, N.; Parsons, J. A.; Ritz, S.; Sciulli, F.; Straub, P. B.; Wai, L.; Yang, S.; Zhu, Q.; Borzemski, P.; Chwastowski, J.; Eskreys, A.; Piotrzkowski, K.; Zachara, M.; Zawiejski, L.; Adamczyk, L.; Bednarek, B.; Jeleń, K.; Kisielewska, D.; Kowalski, T.; Rulikowska-Zarȩbska, E.; Suszycki, L.; Zaja̧c, J.; Kotański, A.; Przybycień, M.; Bauerdick, L. A. T.; Behrens, U.; Beier, H.; Bienlein, J. K.; Coldewey, C.; Deppe, O.; Desler, K.; Drews, G.; Flasiński, M.; Gilkinson, D. J.; Glasman, C.; Göttlicher, P.; Grosse-Knetter, J.; Gutjahr, B.; Hain, W.; Hasell, D.; Hessling, H.; Hultschig, H.; Iga, Y.; Joos, P.; Kasemann, M.; Klanner, R.; Koch, W.; Köpke, L.; Kötz, U.; Kowalski, H.; Labs, J.; Ladage, A.; Löhr, B.; Löwe, M.; Lüke, D.; Mańczak, O.; Ng, J. S. T.; Nickel, S.; Notz, D.; Ohrenberg, K.; Roco, M.; Rohde, M.; Roldán, J.; Schneekloth, U.; Schulz, W.; Selonke, F.; Stiliaris, E.; Surrow, B.; Voss, T.; Westphal, D.; Wolf, G.; Youngman, C.; Zhou, J. F.; Grabosch, H. J.; Kharchilava, A.; Leich, A.; Mattingly, M.; Meyer, A.; Schlenstedt, S.; Wulff, N.; Barbagli, G.; Pelfer, P.; Anzivino, G.; Maccarrone, G.; De Pasquale, S.; Votano, L.; Bamberger, A.; Eisenhardt, S.; Freidhof, A.; Söldner-Rembold, S.; Schroeder, J.; Trefzger, T.; Brook, N. H.; Bussey, P. J.; Doyle, A. T.; Fleck, J. I.; Saxon, D. H.; Utley, M. L.; Wilson, A. S.; Dannemann, A.; Holm, U.; Horstmann, D.; Neumann, T.; Sinkus, R.; Wick, K.; Badura, E.; Burow, B. D.; Hagge, L.; Lohrmann, E.; Mainusch, J.; Milewski, J.; Nakahata, M.; Pavel, N.; Poelz, G.; Schott, W.; Zetsche, F.; Bacon, T. C.; Butterworth, I.; Gallo, E.; Harris, V. L.; Hung, B. Y. H.; Long, K. R.; Miller, D. B.; Morawitz, P. P. O.; Prinias, A.; Sedgbeer, J. K.; Whitfield, A. F.; Mallik, U.; McCliment, E.; Wang, M. Z.; Wang, S. M.; Wu, J. T.; Zhang, Y.; Cloth, P.; Filges, D.; An, S. H.; Hong, S. M.; Nam, S. W.; Park, S. K.; Suh, M. H.; Yon, S. H.; Imlay, R.; Kartik, S.; Kim, H.-J.; McNeil, R. R.; Metcalf, W.; Nadendla, V. K.; Barreiro, F.; Cases, G.; Graciani, R.; Hernández, J. M.; Hervás, L.; Labarga, L.; del Peso, J.; Puga, J.; Terron, J.; de Trocóniz, J. F.; Smith, G. R.; Corriveau, F.; Hanna, D. S.; Hartmann, J.; Hung, L. W.; Lim, J. N.; Matthews, C. G.; Patel, P. M.; Sinclair, L. E.; Stairs, D. G.; St. Laurent, M.; Ullmann, R.; Zacek, G.; Bashkirov, V.; Dolgoshein, B. A.; Stifutkin, A.; Bashindzhagyan, G. L.; Ermolov, P. F.; Gladilin, L. K.; Golubkov, Y. A.; Kobrin, V. D.; Kuzmin, V. A.; Proskuryakov, A. S.; Savin, A. A.; Shcheglova, L. M.; Solomin, A. N.; Zotov, N. P.; Botje, M.; Chlebana, F.; Dake, A.; Engelen, J.; de Kamps, M.; Kooijman, P.; Kruse, A.; Tiecke, H.; Verkerke, W.; Vreeswijk, M.; Wiggers, L.; de Wolf, E.; van Woudenberg, R.; Acosta, D.; Bylsma, B.; Durkin, L. S.; Honscheid, K.; Li, C.; Ling, T. Y.; McLean, K. W.; Murray, W. N.; Park, I. H.; Romanowski, T. A.; Seidlein, R.; Bailey, D. S.; Blair, G. A.; Byrne, A.; Cashmore, R. J.; Cooper-Sarkar, A. M.; Daniels, D.; Devenish, R. C. E.; Harnew, N.; Lancaster, M.; Luffman, P. E.; Lindemann, L.; McFall, J. D.; Nath, C.; Noyes, V. A.; Quadt, A.; Uijterwaal, H.; Walczak, R.; Wilson, F. F.; Yip, T.; Abbiendi, G.; Bertolin, A.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dal Corso, F.; De Giorgi, M.; Dosselli, U.; Limentani, S.; Morandin, M.; Posocco, M.; Stanco, L.; Stroili, R.; Voci, C.; Bulmahn, J.; Butterworth, J. M.; Feild, R. G.; Oh, B. Y.; Whitmore, J. J.; D'Agostini, G.; Marini, G.; Nigro, A.; Tassi, E.; Hart, J. C.; McCubbin, N. A.; Prytz, K.; Shah, T. P.; Short, T. L.; Barberis, E.; Dubbs, T.; Heusch, C.; Van Hook, M.; Hubbard, B.; Lockman, W.; Rahn, J. T.; Sadrozinski, H. F.-W.; Seiden, A.; Biltzinger, J.; Schwarzer, O.; Seifert, R. J.; Walenta, A. H.; Zech, G.; Abramowicz, H.; Briskin, G.; Dagan, S.; Levy, A.; Hasegawa, T.; Hazumi, M.; Ishii, T.; Kuze, M.; Mine, S.; Nagasawa, Y.; Nakao, M.; Suzuki, I.; Tokushuku, K.; Yamada, S.; Yamazaki, Y.; Chiba, M.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Homma, K.; Kitamura, S.; Nakamitsu, Y.; Yamauchi, K.; Cirio, R.; Costa, M.; Ferrero, M. I.; Lamberti, L.; Maselli, S.; Peroni, C.; Sacchi, R.; Solano, A.; Staiano, A.; Dardo, M.; Bailey, D. C.; Bandyopadhyay, D.; Benard, F.; Brkic, M.; Crombie, M. B.; Gingrich, D. M.; Hartner, G. F.; Joo, K. K.; Levman, G. M.; Martin, J. F.; Orr, R. S.; Sampson, C. R.; Teuscher, R. J.; Catterall, C. D.; Jones, T. W.; Kaziewicz, P. B.; Lane, J. B.; Saunders, R. L.; Shulman, J.; Blankenship, K.; Kochocki, J.; Lu, B.; Mo, L. W.; Bogusz, W.; Charchuła, K.; Ciborowski, J.; Gajewski, J.; Grzelak, G.; Kasprzak, M.; Krzyżanowski, M.; Muchorowski, K.; Nowak, R. J.; Pawlak, J. M.; Tymieniecka, T.; Wróblewski, A. K.; Zakrzewski, J. A.; Żarnecki, A. F.; Adamus, M.; Eisenberg, Y.; Karshon, U.; Revel, D.; Zer-Zion, D.; Ali, I.; Badgett, W. F.; Behrens, B.; Dasu, S.; Fordham, C.; Foudas, C.; Goussiou, A.; Loveless, R. J.; Reeder, D. D.; Silverstein, S.; Smith, W. H.; Vaiciulis, A.; Wodarczyk, M.; Tsurugai, T.; Bhadra, S.; Cardy, M. L.; Fagerstroem, C.-P.; Frisken, W. R.; Furutani, K. M.; Khakzad, M.; Schmidke, W. B.

Published in

American Physical Society, Physical Review Letters, 6(75), p. 1006-1011

DOI: 10.1103/physrevlett.75.1006

Tools

Export citation

Search in Google Scholar

Measurement of Charged and Neutral Currente−pDeep Inelastic Scattering Cross Sections at HighQ2

Journal article published in 1995 by M. Derrick, D. Krakauer, S. Magill, D. Mikunas, B. Musgrave, J. Repond, R. Stanek, R. L. Talaga, H. Zhang, R. Ayad, G. Bari, M. Basile, L. Bellagamba, D. Boscherini, A. Bruni and other authors.

This paper is available in a repository.

Full text: Download

Preprint: archiving allowed

Upload

Postprint: archiving allowed

Upload

Published version: archiving allowed

Upload

Policy details

Data provided by

Abstract

Deep inelastic e-p scattering has been studied in both the charged current (CC) and neutral current (NC) reactions at momentum transfers squared Q2 above 400 GeV2 using the ZEUS detector at the HERA ep collider. The CC and NC total cross sections, the NC to CC cross section ratio, and the differential cross sections dsigma/dQ2 are presented. From the Q2 dependence of the CC cross section, the mass term in the CC propagator is determined to be MW = 76+/-16+/-13 GeV.

Published in

Links

Tools

Measurement of Charged and Neutral Currente−pDeep Inelastic Scattering Cross Sections at HighQ2

Abstract