Messungen an μm‐Proben – ein alternativer Weg zur Untersuchung intrinsischer Eigenschaften von Festkörper‐Materialien am Beispiel des Halbleiters TaGeIr
Journal article published in 2020 by
I. Antonyshyn 
,
F. R. Wagner ,
M. Bobnar ,
O. Sichevych ,
U. Burkhardt,
M. Schmidt,
M. König,
K. Poeppelmeier ,
A. P. Mackenzie ,
E. Svanidze ,
Y.-U. Grin
,
F. R. Wagner ,
M. Bobnar ,
O. Sichevych ,
U. Burkhardt,
M. Schmidt,
M. König,
K. Poeppelmeier ,
A. P. Mackenzie ,
E. Svanidze ,
Y.-U. Grin
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