Direct Measurement of theWBoson Width

Abazov, V. M.; Abe, F.; Abbott, B.; Albrow, M. G.; Abolins, M.; Amidei, D.; Acharya, B. S.; Antos, J.; Adams, M.; Adams, T.; Anway-Wiese, C.; Aguilo, E.; Apollinari, G.; Ahsan, M.; Areti, H.; Alexeev, G. D.; Atac, M.; Alkhazov, G.; Alton, A.; Auchincloss, P.; Alverson, G.; Azfar, F.; Alves, G. A.; Azzi, P.; Ancu, L. S.; Bacchetta, N.; Andeen, T.; Anzelc, M. S.; Badgett, W.; Aoki, M.; Bailey, M. W.; Arnoud, Y.; Bao, J.; Arov, M.; de Barbaro, P.; Arthaud, M.; Barbaro-Galtieri, A.; Askew, A.; Åsman, B.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Atramentov, O.; Avila, C.; Bartalini, P.; BackusMayes, J.; Bauer, G.; Badaud, F.; Baumann, T.; Bagby, L.; Bedeschi, F.; Baldin, B.; Bandurin, D. V.; Behrends, S.; Banerjee, S.; Belforte, S.; Barberis, E.; Bellettini, G.; Barfuss, A.-F.; Bellinger, J.; Bargassa, P.; Benjamin, D.; Baringer, P.; Barreto, J.; Benlloch, J.; Bartlett, J. F.; Bensinger, J.; Bassler, U.; Benton, D.; Bauer, D.; Beretvas, A.; Beale, S.; Berge, J. P.; Bean, A.; Begalli, M.; Bertolucci, S.; Begel, M.; Bhatti, A.; Belanger-Champagne, C.; Biery, K.; Bellantoni, L.; Binkley, M.; Benitez, J. A.; Bird, F.; Beri, S. B.; Bernardi, G.; Bisello, D.; Bernhard, R.; Blair, R. E.; Bertram, I.; Blocker, C.; Besançon, M.; Bodek, A.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bokhari, W.; Bhat, P. C.; Bolognesi, V.; Bhatnagar, V.; Bortoletto, D.; Blazey, G.; Boswell, C.; Blessing, S.; Boulos, T.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Brandenburg, G.; Boline, D.; Buckley-Geer, E.; Bolton, T. A.; Budd, H. S.; Boos, E. E.; Burkett, K.; Borissov, G.; Busetto, G.; Bose, T.; Brandt, A.; Byon-Wagner, A.; Brock, R.; Byrum, K. L.; Brooijmans, G.; Cammerata, J.; Bross, A.; Campagnari, C.; Brown, D.; Campbell, M.; Bu, X. B.; Buchholz, D.; Caner, A.; Buehler, M.; Carithers, W.; Buescher, V.; Carlsmith, D.; Bunichev, V.; Castro, A.; Burdin, S.; Burnett, T. H.; Cen, Y.; Buszello, C. P.; Cervelli, F.; Calfayan, P.; Chapman, J.; Calpas, B.; Cheng, M.-T.; Calvet, S.; Cammin, J.; Chiarelli, G.; Carrasco-Lizarraga, M. A.; Chikamatsu, T.; Carrera, E.; Carvalho, W.; Clark, A. G.; Casey, B. C. K.; Cobal, M.; Castilla-Valdez, H.; Contreras, M.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Conway, J.; Chan, K. M.; Cooper, J.; Chandra, A.; Cordelli, M.; Cheu, E.; Cho, D. K.; Crane, D.; Cho, S. W.; Cunningham, J. D.; Choi, S.; Daniels, T.; Choudhary, B.; DeJongh, F.; Christoudias, T.; Cihangir, S.; Delchamps, S.; Dell'Agnello, S.; Claes, D.; Clutter, J.; Dell'Orso, M.; Cooke, M.; Demortier, L.; Cooper, W. E.; Denby, B.; Corcoran, M.; Deninno, M.; Couderc, F.; Derwent, P. F.; Cousinou, M.-C.; Cutts, D.; Ćwiok, M.; Devlin, T.; Dickson, M.; Das, A.; Donati, S.; Davies, G.; Drucker, R. B.; De, K.; Dunn, A.; de Jong, S. J.; De La Cruz-Burelo, E.; Einsweiler, K.; DeVaughan, K.; Elias, J. E.; Déliot, F.; Ely, R.; Demarteau, M.; Engels, E.; Demina, R.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Errede, D.; Desai, S.; Errede, S.; Diehl, H. T.; Fan, Q.; Diesburg, M.; Farhat, B.; Dominguez, A.; Dorland, T.; Fiori, I.; Dubey, A.; Flaugher, B.; Dudko, L. V.; Foster, G. W.; Duflot, L.; Franklin, M.; Duggan, D.; Frautschi, M.; Duperrin, A.; Dutt, S.; Freeman, J.; Dyshkant, A.; Friedman, J.; Eads, M.; Frisch, H.; Edmunds, D.; Fry, A.; Ellison, J.; Fuess, T. A.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Fukui, Y.; Funaki, S.; Escalier, M.; Gagliardi, G.; Evans, H.; Galeotti, S.; Evdokimov, A.; Gallinaro, M.; Evdokimov, V. N.; Facini, G.; Garfinkel, A. F.; Ferapontov, A. V.; Geer, S.; Ferbel, T.; Gerdes, D. W.; Fiedler, F.; Giannetti, P.; Filthaut, F.; Giokaris, N.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Giromini, P.; Fortner, M.; Gladney, L.; Fox, H.; Glenzinski, D.; Fuess, S.; Gold, M.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gonzalez, J.; Garcia-Bellido, A.; Gordon, A.; Gavrilov, V.; Goshaw, A. T.; Gay, P.; Goulianos, K.; Geist, W.; Grassmann, H.; Geng, W.; Gerber, C. E.; Grewal, A.; Gershtein, Y.; Grieco, G.; Gillberg, D.; Groer, L.; Ginther, G.; Grosso-Pilcher, C.; Golovanov, G.; Haber, C.; Gómez, B.; Goussiou, A.; Hahn, S. R.; Grannis, P. D.; Hamilton, R.; Greder, S.; Handler, R.; Greenlee, H.; Hans, R. M.; Greenwood, Z. D.; Hara, K.; Gregores, E. M.; Grenier, G.; Harral, B.; Gris, P.-H.; Harris, R. M.; Grivaz, J.-F.; Hauger, S. A.; Grohsjean, A.; Hauser, J.; Grünendahl, S.; Grünewald, M. W.; Hawk, C.; Guo, F.; Heinrich, J.; Guo, J.; Cronin-Hennessy, D.; Gutierrez, G.; Hollebeek, R.; Gutierrez, P.; Holloway, L.; Haas, A.; Haefner, P.; Hölscher, A.; Hagopian, S.; Hong, S.; Haley, J.; Houk, G.; Hall, I.; Hu, P.; Hall, R. E.; Huffman, B. T.; Han, L.; Harder, K.; Hughes, R.; Harel, A.; Hurst, P.; Hauptman, J. M.; Huston, J.; Hays, J.; Huth, J.; Hebbeker, T.; Hylen, J.; Hedin, D.; Hegeman, J. G.; Incagli, M.; Heinson, A. P.; Incandela, J.; Heintz, U.; Iso, H.; Hensel, C.; Jensen, H.; Heredia-De La Cruz, I.; Herner, K.; Jessop, C. P.; Hesketh, G.; Joshi, U.; Hildreth, M. D.; Kadel, R. W.; Hirosky, R.; Hoang, T.; Kamon, T.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Kaneko, T.; Hohlfeld, M.; Kardelis, D. A.; Hossain, S.; Kasha, H.; Houben, P.; Kato, Y.; Hu, Y.; Keeble, L.; Hubacek, Z.; Huske, N.; Kennedy, R. D.; Hynek, V.; Kephart, R.; Iashvili, I.; Kesten, P.; Illingworth, R.; Kestenbaum, D.; Ito, A. S.; Keup, R. M.; Jabeen, S.; Jaffré, M.; Keutelian, H.; Jain, S.; Keyvan, F.; Jakobs, K.; Kim, D. H.; Jamin, D.; Kim, H. S.; Jesik, R.; Johns, K.; Kim, S. B.; Johnson, C.; Kim, S. H.; Johnson, M.; Kim, Y. K.; Johnston, D.; Kirsch, L.; Jonckheere, A.; Koehn, P.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kajfasz, E.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Karmanov, D.; Kopp, S.; Kasper, P. A.; Kordas, K.; Katsanos, I.; Koska, W.; Kaushik, V.; Kehoe, R.; Kovacs, E.; Kermiche, S.; Kowald, W.; Khalatyan, N.; Krasberg, M.; Khanov, A.; Kroll, J.; Kharchilava, A.; Kruse, M.; Kharzheev, Y. N.; Khatidze, D.; Kuhlmann, S. E.; Kirby, M. H.; Kuns, E.; Kirsch, M.; Laasanen, A. T.; Klima, B.; Labanca, N.; Kohli, J. M.; Konrath, J.-P.; Lammel, S.; Kozelov, A. V.; Lamoureux, J. I.; Kraus, J.; LeCompte, T.; Kuhl, T.; Leone, S.; Kumar, A.; Lewis, J. D.; Kupco, A.; Kurča, T.; Limon, P.; Kuzmin, V. A.; Lindgren, M.; Kvita, J.; Liss, T. M.; Lacroix, F.; Lockyer, N.; Lam, D.; Loomis, C.; Lammers, S.; Landsberg, G.; Long, O.; Lebrun, P.; Loreti, M.; Lee, H. S.; Low, E. H.; Lee, W. M.; Lu, J.; Leflat, A.; Lucchesi, D.; Lellouch, J.; Li, L.; Luchini, C. B.; Li, Q. Z.; Lukens, P.; Lietti, S. M.; Maas, P.; Lim, J. K.; Maeshima, K.; Lincoln, D.; Maghakian, A.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Maksimovic, P.; Lipton, R.; Mangano, M.; Liu, Y.; Mansour, J.; Liu, Z.; Mariotti, M.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Marriner, J. P.; Love, P.; Martin, A.; Lubatti, H. J.; Matthews, J. A. J.; Luna-Garcia, R.; Mattingly, R.; Lyon, A. L.; McIntyre, P.; Maciel, A. K. A.; Mackin, D.; Melese, P.; Mättig, P.; Menzione, A.; Magaña-Villalba, R.; Meschi, E.; Mal, P. K.; Michail, G.; Malik, S.; Mikamo, S.; Malyshev, V. L.; Maravin, Y.; Miller, M.; Martin, B.; Miller, R.; McCarthy, R.; Mimashi, T.; McGivern, C. L.; Miscetti, S.; Meijer, M. M.; Mishina, M.; Melnitchouk, A.; Mendoza, L.; Mitsushio, H.; Menezes, D.; Miyashita, S.; Mercadante, P. G.; Morita, Y.; Merkin, M.; Moulding, S.; Meyer, A.; Meyer, J.; Mueller, J.; Mondal, N. K.; Mukherjee, A.; Montgomery, H. E.; Muller, T.; Moore, R. W.; Musgrave, P.; Moulik, T.; Nakae, L. F.; Muanza, G. S.; Mulhearn, M.; Nakano, I.; Mundal, O.; Nelson, C.; Mundim, L.; Neuberger, D.; Nagy, E.; Newman-Holmes, C.; Naimuddin, M.; Nodulman, L.; Narain, M.; Neal, H. A.; Ogawa, S.; Negret, J. P.; Oh, S. H.; Neustroev, P.; Ohl, K. E.; Nilsen, H.; Oishi, R.; Nogima, H.; Okusawa, T.; Novaes, S. F.; Nunnemann, T.; Pagliarone, C.; Obrant, G.; Paoletti, R.; Ochando, C.; Papadimitriou, V.; Onoprienko, D.; Orduna, J.; Oshima, N.; Patrick, J.; Osman, N.; Pauletta, G.; Osta, J.; Paulini, M.; Otec, R.; Pescara, L.; Otero y. Garzón, G. J.; Peters, M. D.; Owen, M.; Padilla, M.; Phillips, T. J.; Padley, P.; Piacentino, G.; Pangilinan, M.; Pillai, M.; Parashar, N.; Plunkett, R.; Park, S.-J.; Park, S. K.; Pondrom, L.; Parsons, J.; Produit, N.; Partridge, R.; Proudfoot, J.; Parua, N.; Ptohos, F.; Patwa, A.; Punzi, G.; Penning, B.; Ragan, K.; Perfilov, M.; Peters, K.; Rimondi, F.; Peters, Y.; Ristori, L.; Pétroff, P.; Roach-Bellino, M.; Piegaia, R.; Robertson, W. J.; Piper, J.; Pleier, M.-A.; Rodrigo, T.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Romano, J.; Podstavkov, V. M.; Rosenson, L.; Pogorelov, Y.; Sakumoto, W. K.; Pol, M.-E.; Saltzberg, D.; Polozov, P.; Popov, A. V.; Sansoni, A.; Prewitt, M.; Scarpine, V.; Protopopescu, S.; Schindler, A.; Qian, J.; Schlabach, P.; Quadt, A.; Schmidt, E. E.; Quinn, B.; Rakitine, A.; Schmidt, M. P.; Rangel, M. S.; Schneider, O.; Ranjan, K.; Sciacca, G. F.; Ratoff, P. N.; Scribano, A.; Renkel, P.; Segler, S.; Rich, P.; Rijssenbeek, M.; Seidel, S.; Ripp-Baudot, I.; Seiya, Y.; Rizatdinova, F.; Sganos, G.; Robinson, S.; Sgolacchia, A.; Rominsky, M.; Royon, C.; Shapiro, M.; Rubinov, P.; Shaw, N. M.; Ruchti, R.; Shen, Q.; Safronov, G.; Shepard, P. F.; Sajot, G.; Shimojima, M.; Sánchez-Hernández, A.; Sanders, M. P.; Shochet, M.; Sanghi, B.; Siegrist, J.; Savage, G.; Sill, A.; Sawyer, L.; Sinervo, P.; Scanlon, T.; Singh, P.; Schaile, D.; Schamberger, R. D.; Skarha, J.; Scheglov, Y.; Sliwa, K.; Schellman, H.; Smith, D. A.; Schliephake, T.; Snider, F. D.; Schlobohm, S.; Song, L.; Schwanenberger, C.; Schwienhorst, R.; Song, T.; Sekaric, J.; Spalding, J.; Severini, H.; Spiegel, L.; Shabalina, E.; Sphicas, P.; Shamim, M.; Spies, A.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Stanco, L.; Shivpuri, R. K.; Steele, J.; Siccardi, V.; Stefanini, A.; Simak, V.; Strahl, K.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Strait, J.; Slattery, P.; Stuart, D.; Smirnov, D.; Sullivan, G.; Snow, G. R.; Sumorok, K.; Snow, J.; Swartz, R. L.; Snyder, S.; Takahashi, T.; Söldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Takikawa, K.; Sopczak, A.; Tartarelli, F.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Teramoto, Y.; Spurlock, B.; Stark, J.; Tether, S.; Stolin, V.; Theriot, D.; Stoyanova, D. A.; Thomas, J.; Strandberg, J.; Thomas, T. L.; Strang, M. A.; Thun, R.; Strauss, E.; Strauss, M.; Timko, M.; Ströhmer, R.; Tipton, P.; Strom, D.; Titov, A.; Stutte, L.; Tkaczyk, S.; Sumowidagdo, S.; Svoisky, P.; Tollefson, K.; Takahashi, M.; Tollestrup, A.; Tanasijczuk, A.; Taylor, W.; Tonnison, J.; de Troconiz, J. F.; Tiller, B.; Tseng, J.; Titov, M.; Tokmenin, V. V.; Turcotte, M.; Torchiani, I.; Turini, N.; Tsybychev, D.; Uemura, N.; Tuchming, B.; Ukegawa, F.; Tully, C.; Unal, G.; Tuts, P. M.; Unalan, R.; van den Brink, S.; Uvarov, L.; Vejcik, S.; Uvarov, S.; Vidal, R.; Uzunyan, S.; Vondracek, M.; van den Berg, P. J.; Van Kooten, R.; van Leeuwen, W. M.; Wagner, R. L.; Varelas, N.; Wainer, N.; Varnes, E. W.; Walker, R. C.; Vasilyev, I. A.; Wang, G.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Wang, J.; Verzocchi, M.; Wang, M. J.; Vesterinen, M.; Wang, Q. F.; Vilanova, D.; Warburton, A.; Vint, P.; Vokac, P.; Wagner, R. G.; Watts, T.; Wahl, H. D.; Webb, R.; Wang, M. H. L. S.; Wendt, C.; Warchol, J.; Watts, G.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Wayne, M.; Weber, G.; Westhusing, T.; Weber, M.; Wicklund, A. B.; Wenger, A.; Wicklund, E.; Wetstein, M.; Wilkinson, R.; White, A.; Williams, H. H.; Wicke, D.; Williams, M. R. J.; Wilson, P.; Wilson, G. W.; Winer, B. L.; Wimpenny, S. J.; Wolinski, J.; Wobisch, M.; Wu, D. Y.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Wu, X.; Xie, Y.; Wyss, J.; Xu, C.; Yagil, A.; Yacoob, S.; Yao, W.; Yamada, R.; Yasuoka, K.; Yang, W.-C.; Yasuda, T.; Ye, Y.; Yatsunenko, Y. A.; Yeh, G. P.; Ye, Z.; Yeh, P.; Yin, H.; Yin, M.; Yip, K.; Yoh, J.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Yoshida, T.; Yu, J.; Yovanovitch, D.; Zeitnitz, C.; Yu, I.; Zelitch, S.; Yun, J. C.; Zhao, T.; Zanetti, A.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zetti, F.; Zielinski, M.; Zhang, L.; Zieminska, D.; Zhang, S.; Zivkovic, L.; Zhang, W.; Zutshi, V.; Zucchelli, S.; Zverev, E. G.

Tools

Direct Measurement of theWBoson Width

Journal article published in 2009 by V. M. Abazov, F. Abe, B. Abbott, M. G. Albrow, M. Abolins, D. Amidei, B. S. Acharya, J. Antos, M. Adams, T. Adams, C. Anway-Wiese, E. Aguilo, G. Apollinari, M. Ahsan, H. Areti and other authors.

This paper is available in a repository.

Full text: Download

Preprint: policy unknown

Upload

Postprint: policy unknown

Upload

Published version: policy unknown

Upload

Abstract

Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) ; Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) ; We present a direct measurement of the width of the W boson using the shape of the transverse mass distribution of W -> e nu candidate events. Data from approximately 1 fb(-1) of integrated luminosity recorded at s=1.96 TeV by the D0 detector at the Fermilab Tevatron pp collider are analyzed. We use the same methods and data sample that were used for our recently published W boson mass measurement, except for the modeling of the recoil, which is done with a new method based on a recoil library. Our result, 2.028 +/- 0.072 GeV, is in agreement with the predictions of the standard model.

Links

Tools

Direct Measurement of theWBoson Width

Abstract